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更新時(shí)間:2025.05.04
菲涅爾反射對(duì)光纖連接器插入損耗的影響

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光纖連接器在研磨完成后,纖芯端面的3D圖通常顯示為凹陷,即在跳線兩兩對(duì)接時(shí),兩光纖端面間會(huì)存在空氣間隙。當(dāng)光經(jīng)過(guò)此光纖連接器時(shí),在兩個(gè)端面之間必定產(chǎn)生菲涅爾反射。基于菲涅爾反射理論,分別討論了在計(jì)入干涉和不計(jì)干涉兩種情況下光纖連接器的插入損耗,并繪制了不同空氣間隙厚度時(shí)的插入損耗曲線,解釋了Telcordia GR-326-CORE Issue3把光纖凹陷限定在50nm之內(nèi)的實(shí)際意義。

HBES玻璃制作菲涅爾透鏡灰度掩模的研究

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從HEBS玻璃能量作用機(jī)理和曝光量與透過(guò)率關(guān)系著手,研究利用電子束直寫(xiě)曝光的方法,在HEBS玻璃上制作8階菲涅爾透鏡變灰階掩模,得到掩模最大透過(guò)率為44.8%,最小透過(guò)率為8.7%。利用該掩模制得菲涅爾透鏡衍射效率高達(dá)91%,證實(shí)利用HEBS玻璃制作灰階掩模的可行性及實(shí)用性。

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