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通過對電路板絕緣性能下降的原因和實驗數(shù)據(jù)擬合的分析,說明了周圍環(huán)境對電路板絕緣電阻有影響。為了準確分析電路設(shè)計中可能出現(xiàn)的因絕緣電阻導(dǎo)致的故障,采用曲線分段擬合的算法對試驗數(shù)據(jù)進行擬合。通過對數(shù)據(jù)的擬合求出了回歸方程,并總結(jié)出絕緣電阻隨時間變化的規(guī)律。
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