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隨著消費(fèi)者對(duì)延長(zhǎng)電池使用壽命和強(qiáng)大處理能力的期望愈來(lái)愈高,智能手機(jī)與平板電腦對(duì)充電和電池保護(hù)功率金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效晶體管(MOSFET)的需求也同時(shí)與日俱增。其中,電池組保護(hù)電路模塊(PCM)中的共享泄極(Common-drain)背對(duì)背(Back-to-back)功率MOSFET能夠?qū)Τ潆?放電進(jìn)行控制,并且可在發(fā)生短路、過(guò)電壓、欠電壓以及發(fā)生會(huì)損壞電器的
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