格式:pdf
大?。?span class="single-tag-height">868KB
頁數(shù): 5頁
為準確測量上海光源軟X射線譜學(xué)顯微光束線采用的變包含角平面光柵單色儀的轉(zhuǎn)角重復(fù)精度,提出了一種新的基于相位板衍射準直技術(shù)的測量方法。該方法將半導(dǎo)體激光單模光纖和相位板衍射準直技術(shù)結(jié)合起來,利用面陣CCD采集圖像,通過測量光斑的位移變化確定平面鏡和光柵的角度變化。實驗表明,該方法可以測量掠入射情況下單色儀聯(lián)動時的轉(zhuǎn)角重復(fù)精度,測量精度可達±0.1″,此測量精度優(yōu)于同等實驗條件下的商用ELCOMAT3000自準直儀的測量精度。