大規(guī)模集成電路與系統(tǒng)芯片可測(cè)性設(shè)計(jì)

大規(guī)模集成電路項(xiàng)目可行性研究報(bào)告(專業(yè)經(jīng)典案例)

樂稅智庫文檔 財(cái)稅法規(guī) 策劃樂稅網(wǎng) 樂稅網(wǎng)（http://www.***.***/）郵箱：jiufu@leshui365.com 關(guān)于印發(fā)極大規(guī)模集成電路制造裝備及成套工藝等科技重大專項(xiàng) 免稅進(jìn)口物資清單的通知 【標(biāo)簽】免稅,大規(guī)模集成電路,制造裝備及成套工藝,進(jìn)口物資清單 【頒布單位】財(cái)政部,海關(guān)總署,國(guó)家稅務(wù)總局 【文號(hào)】財(cái)關(guān)稅﹝2012﹞6號(hào) 【發(fā)文日期】2012-05-29 【實(shí)施時(shí)間】2012-05-29 【有效性】全文有效 【稅種】進(jìn)出口貨物監(jiān)管 各省、自治區(qū)、直轄市、計(jì)劃單列市財(cái)政廳(局)、國(guó)家稅務(wù)局，新疆生產(chǎn)建設(shè)兵團(tuán)財(cái)務(wù)局， 海關(guān)總署廣東分署、各直屬海關(guān)： 　　根據(jù)《財(cái)政部、科技部、國(guó)家發(fā)展改革委、海關(guān)總署、國(guó)家稅務(wù)總局關(guān)于科技重大專項(xiàng) 進(jìn)口稅收政策的通知》(財(cái)關(guān)稅[2010]28號(hào))規(guī)定，

隨著芯片制造工藝的不斷發(fā)展,超大規(guī)模集成電路集成度不斷提高,體積不斷縮小.納米工藝一方面帶來產(chǎn)品規(guī)模、產(chǎn)品性能的提升,另一方面帶來了產(chǎn)品可靠性,不可信制造和測(cè)試效率、測(cè)試覆蓋率等諸多問題.為應(yīng)對(duì)這些問題,設(shè)計(jì)工程師和測(cè)試工程師研發(fā)了很多新的方法,分析了超大規(guī)模集成電路在可靠性設(shè)計(jì)和測(cè)試技術(shù)發(fā)展的最新進(jìn)展,最后指出了vlsi可靠性設(shè)計(jì)和測(cè)試技術(shù)的發(fā)展方向.

集成電路芯片封裝第1講

本文介紹了集成電路可測(cè)性設(shè)計(jì)項(xiàng)目中針對(duì)cadence網(wǎng)表文件進(jìn)行解析,提取待測(cè)元件之間管腳連線的方法和過程。首先分析網(wǎng)表文件結(jié)構(gòu),接著詳細(xì)說明如何過濾網(wǎng)表文件中的無用信息,析取出與待測(cè)元件相關(guān)的網(wǎng)絡(luò)節(jié)點(diǎn)定義,最后再從析取出的網(wǎng)絡(luò)節(jié)點(diǎn)定義中提取待測(cè)元件的引腳連線信息并按照指定的文件格式輸出。

跟隨當(dāng)前集成電路技術(shù)的發(fā)展,在微電子專業(yè)開設(shè)課程《集成電路測(cè)試與可測(cè)性設(shè)計(jì)》,完善了學(xué)生的專業(yè)知識(shí)結(jié)構(gòu)。

集成電路是現(xiàn)在信息社會(huì)的基礎(chǔ),是當(dāng)代電子系統(tǒng)的核心。它對(duì)經(jīng)濟(jì)建設(shè),社會(huì)發(fā)展和國(guó)家安全具有至關(guān)重要的戰(zhàn)略地位和不可替代的核心關(guān)鍵作用,其重要性和產(chǎn)業(yè)規(guī)模仍在迅速提高。

集成電路設(shè)計(jì)發(fā)展方興未艾,新方法、新技術(shù)不斷涌現(xiàn)。設(shè)計(jì)一款好芯片,不僅需要很深厚的知識(shí)背景,而且在做實(shí)際項(xiàng)目的時(shí)候也會(huì)遇到很多操作問題。本文以集成電路后端設(shè)計(jì)為切入點(diǎn),結(jié)合具體實(shí)驗(yàn),介紹了一個(gè)芯片級(jí)的設(shè)計(jì)在encounter軟件中進(jìn)行布圖與布局的詳細(xì)過程。希望本文能給剛進(jìn)入這一行業(yè)的初學(xué)者帶來一些便利。

設(shè)計(jì)了一種轉(zhuǎn)塔式測(cè)試分選機(jī),用于極小型半導(dǎo)體器件的測(cè)試、打標(biāo)、分選和編帶。此設(shè)備處理速度快,檢測(cè)分選效率高,對(duì)半導(dǎo)體器件損傷小,可以大規(guī)模用于極小型半導(dǎo)體器件的測(cè)試分選。

隨著大陸半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈的快速發(fā)展，在全國(guó)4大經(jīng)濟(jì)圈中長(zhǎng)三角地區(qū)已經(jīng)成為大陸集成電路產(chǎn)業(yè)的發(fā)展核心區(qū)域，根據(jù)2003年統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)顯示，長(zhǎng)江三角洲占全國(guó)ic產(chǎn)業(yè)產(chǎn)值比重的64．2％，而上海地區(qū)亦占據(jù)全國(guó)比重38．6％，產(chǎn)業(yè)聚集效益明顯。

1工作背景——科學(xué)含義、研究現(xiàn)狀、需求分析等系統(tǒng)芯片(system-on-chip)設(shè)計(jì)在國(guó)內(nèi)外得到了越來越多的重視。所謂系統(tǒng)芯片,即將盡可能多的集成電路知識(shí)產(chǎn)權(quán)(ip)模塊集成到一片單硅片上。

asic集成電路設(shè)計(jì)開發(fā)中的隱含邏輯瑕疵與電路故障是芯片實(shí)現(xiàn)的最大困境,針對(duì)不同特性的電路提出了內(nèi)部邏輯掃描、存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)試、邊界掃描鏈插入以及atpg自動(dòng)測(cè)試向量生成的解決方案與技術(shù)方法,實(shí)現(xiàn)了soc設(shè)計(jì)開發(fā)中邏輯與成片電路的主動(dòng)偵測(cè)與跟蹤尋徑,經(jīng)實(shí)踐證明這些方法大大提高了復(fù)雜soc研制的成功率。

硅晶圓是什么？原來集成電路芯片這樣煉成（圖文） 在半導(dǎo)體的新聞中，總是會(huì)提到以尺寸標(biāo)示的晶圓廠，如8寸或是12寸晶圓廠，然而， 所謂的晶圓到底是什么東西?其中8寸指的是什么部分?要產(chǎn)出大尺寸的晶圓制造又有什么 難度呢?以下將逐步介紹半導(dǎo)體最重要的基礎(chǔ)——“晶圓”到底是什么。 何謂晶圓? 晶圓(wafer)，是制造各式電腦晶片的基礎(chǔ)。我們可以將晶片制造比擬成用樂高積木蓋房 子，藉由一層又一層的堆疊，完成自己期望的造型(也就是各式晶片)。然而，如果沒有良好 的地基，蓋出來的房子就會(huì)歪來歪去，不合自己所意，為了做出完美的房子，便需要一個(gè)平 穩(wěn)的基板。對(duì)晶片制造來說，這個(gè)基板就是接下來將描述的晶圓。 (souse：flickr/jonathanstewartccby2.0) 首先，先回想一下小時(shí)候在玩樂高積木時(shí)，積木的表面都會(huì)有一個(gè)一個(gè)小小圓型的凸出 物，

《集成電路工藝原理(芯片制造)》課程試題庫

根據(jù)彈性分組環(huán)專用集成電路的具體情況,提出了相應(yīng)的可測(cè)性設(shè)計(jì)(designfortest-ability,dft)方案,綜合運(yùn)用了三種dft技術(shù):掃描鏈、邊界掃描測(cè)試和存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)試。介紹了三種技術(shù)的選取理由和原理,對(duì)其具體實(shí)現(xiàn)過程和結(jié)果進(jìn)行了詳細(xì)分析。dft電路的實(shí)現(xiàn)大大降低了專用集成電路的測(cè)試難度,提高了故障覆蓋率。

稅控加油機(jī)控制系統(tǒng)集成電路芯片用來實(shí)現(xiàn)傳統(tǒng)的稅控加油機(jī)采用多個(gè)分立元件實(shí)現(xiàn)的功能。該芯片在稅控加油機(jī)中起著重要的作用,是整個(gè)稅控加油機(jī)核心。該芯片利用synopsys公司的全流程軟件進(jìn)行設(shè)計(jì),并采用chartered0.35微米cmos工藝;經(jīng)過代工廠和封裝廠的加工后即可得到具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的專用集成電路芯片。本文主要介紹了稅控加油機(jī)控制系統(tǒng)的架構(gòu)和詳細(xì)組成,并給出了該芯片的詳細(xì)設(shè)計(jì)流程。

對(duì)講機(jī)收發(fā)芯片數(shù)字模塊可測(cè)性設(shè)計(jì)及接口電路的驗(yàn)證研究 現(xiàn)代集成電路設(shè)計(jì)中,芯片的規(guī)模和復(fù)雜程度呈指數(shù)增加,為了 保證所設(shè)計(jì)芯片功能的正確性和制造的完備性,需要比以往更多的時(shí) 間和人力,困難度大幅增加。而目前功能驗(yàn)證能力已經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)落后于設(shè) 計(jì)能力,功能驗(yàn)證已成為大規(guī)模芯片設(shè)計(jì)的瓶頸,它造成了芯片測(cè)試 困難度的增加。另一方面,集成電路硅工藝本身由于摻雜不均和雜質(zhì) 等因素造成制造過程中出現(xiàn)缺陷,使得芯片測(cè)試異常。近年來,在驗(yàn)證 方面的改進(jìn)主要體現(xiàn)在產(chǎn)生了基于systemverilog的一些新驗(yàn)證方 法,比如基于斷言的驗(yàn)證、可約束的隨機(jī)激勵(lì)等。而制造測(cè)試隨著可 測(cè)性設(shè)計(jì)(dft)的引入,大大簡(jiǎn)化了芯片由于制造過程中因自身缺陷 而進(jìn)行的復(fù)雜調(diào)試。在充分的文獻(xiàn)調(diào)研基礎(chǔ)上,本文研究?jī)?nèi)容和取得 成果如下:1.本論文首先介紹了一種新型的基于斷言和可約束隨機(jī)激 勵(lì)的驗(yàn)證方法

隨著集成電路規(guī)模的不斷增大,芯片的可測(cè)性設(shè)計(jì)正變得越來越重要。研究了目前較常用的邊界掃描測(cè)試技術(shù)的原理、結(jié)構(gòu),并給出了邊界掃描技術(shù)的應(yīng)用。重點(diǎn)研究了基于邊界掃描的外測(cè)試方式,即電路板上芯片間連線的固定故障、開路和短路故障的測(cè)試;利用硬件描述語言verilog設(shè)計(jì)出tap控制器,得到tap狀態(tài)機(jī)的仿真結(jié)果。

設(shè)計(jì)采用單片機(jī)at89s52為核心元件來實(shí)現(xiàn),以at89s52為核心的數(shù)字電路自動(dòng)測(cè)試儀,可以對(duì)常見的74系列數(shù)字集成電路進(jìn)行邏輯功能測(cè)試、自動(dòng)確定其型號(hào)和好壞,且用lcd顯示其邏輯符號(hào)。具有體積小、重量輕、成本低、人機(jī)界面友好、操作方便和可靠性高等優(yōu)點(diǎn)。

在上海市人保局、上海市經(jīng)信委的持續(xù)支持下,上海市集成電路行業(yè)協(xié)會(huì)已成功舉辦九次\"集成電路產(chǎn)業(yè)鏈發(fā)展高級(jí)研修班\

分別采用流體力學(xué)模型和漂移擴(kuò)散模型對(duì)不同溝道長(zhǎng)度的nmosfet進(jìn)行襯底電流的提取,并以nmosfet溝道長(zhǎng)度和ldd注入峰值綜合對(duì)器件特性的影響為研究?jī)?nèi)容,介紹了集成電路可制造性設(shè)計(jì)中器件參數(shù)的優(yōu)化與提取。

本文介紹東南大學(xué)射頻與光電集成電路研究所完全利用國(guó)內(nèi)資源,開發(fā)擁有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的光纖用戶網(wǎng)專用集成電路芯片,產(chǎn)、學(xué)、研相結(jié)合的初步實(shí)踐。